點擊圖片查看大圖介電常數介質損耗測試儀實驗原理:
介電體（又稱電介質）基本的物理性質是它的介電性，對介電性的研究不但在電介質材料的應用上具有重要意義，而且也是了解電介質的分子結構和激化機理的重要分析手段之一，探索高介電常數的電介質材料，對電子工業元器件的小型化有著重要的意義。
介電常數（又稱電容率）是反映材料特性的重要參量，電介質極化能力越強，其介電常數就越大。測量介電常數的方法很多，常用的有比較法，替代法，電橋法，諧振法，Q表法，直流測量法和微波測量法等。
各種方法各有特點和適用范圍，因而要根據材料的性能，樣品的形狀和尺寸大小及所需測量的頻率范圍等選擇適當的測量方法。
高頻介質損耗測試系統由916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。
系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
介電常數測試儀/介質損耗因數正切值測試儀工作特性
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差
|
|
A |
C |
|
頻率范圍 |
25kHz～10MHz |
100kHz～10MHz |
|
固有誤差 |
≤5％±滿度值的2% |
≤5％±滿度值的2% |
|
工作誤差 |
≤7％±滿度值的2% |
≤7％±滿度值的2% |
|
頻率范圍 |
10MHz～60MHz |
10MHz～160MHz |
|
固有誤差 |
≤6％±滿度值的2% |
≤6％±滿度值的2% |
|
工作誤差 |
≤8％±滿度值的2% |
≤8％±滿度值的2% |
2．電感測量范圍
|
A |
C |
|
14.5nH～8.14H |
4.5nH～140mH |
3．電容測量
|
|
A |
C |
|
直接測量范圍 |
1～460p |
1～205p |
|
主電容調節范圍 |
40～500pF |
18～220pF |
|
準確度 |
150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% |
150pF以下±1.5pF 150pF以上±1% |
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4．信號源頻率覆蓋范圍
|
|
A |
C |
|
頻率范圍 |
10kHz～60MHz |
0.1～160MHz |
|
CH1 |
10～99.9999kHz |
0.1～0.999999MHz |
|
CH2 |
100～999.999kHz |
1～9.99999MHz |
|
CH3 |
1～9.99999MHz |
10～99.9999MHz |
|
CH4 |
10～60MHz |
100～160MHz |
|
頻率指示誤差 |
3×10-5±1個字 |
5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000
6．Q表正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c.外型尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280。
附表一,介質損耗測試系統主要性能參數一覽表
BH916測試裝置
GDAT高頻Q表
平板電容極片
Φ50mm/Φ38mm可選
頻率范圍
20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調范圍
≥15mm
頻率指示誤差
3×10-5±1個字
夾具插頭間距
25mm±0.01mm
主電容調節范圍
30-500/18-220pF
測微桿分辨率
0.001mm
主調電容誤差
<1%或1pF
夾具損耗角正切值
≦4×10-4 （1MHz)
Q測試范圍
2～1023
附表二,LKI-1電感組典型測試數據
線圈號
測試頻率
Q值
分布電容p
電感值
9
100KHz
98
9.4
25mH
8
400KHz
138
11.4
4.87mH
7
400KHz
202
16
0.99mH
6
1MHz
196
13
252μH
5
2MHz
198
8.7
49.8μH
4
4.5MHz
231
7
10μH
3
12MHz
193
6.9
2.49μH
2
12MHz
229
6.4
0.508μH
1
25MHz
233
0.9
0.125μH
50MHz
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